EDX3000BX射線熒光光譜儀的結構系統分析
EDX3000BX射線熒光光譜儀是一種常用的光譜技術，既可用于材料的組成成分分析，又可用于涂層和多層薄膜厚度的測量等。EDX3000BX射線熒光光譜儀能非常好地篩選出原材料、部件和成品的有害元素，使消費品和配件的生產商、進口商和零售商從中獲益。EDX3000BX射線熒光光譜儀提供無損分析，也就是說被檢測物品可以以后繼續使用或從新進入供應鏈。EDX3000BX射線熒光光譜儀能很好地檢測塑料、產品包裝、金屬或混合原料中的氯（Cl）、鎘（Cd）、鉛（Pb）、汞（Hg）、鉻（Cr）、溴（Br）和其它受限制的有毒元素。EDX3000BX射線熒光光譜儀檢測只需要zui簡單的培訓，基本不需要樣品制備，*可以攜帶至樣品處檢測，這樣就無需挪動材料。
機械系統：試樣裝載系統、光學系統、測角測角儀系統
主要是晶體分光器，通過晶體衍射現象把不同波長的X射線分開。根據布拉格衍射定律2dsinθ=nλ，改變θ角，EDX3000BX射線熒光光譜儀可以觀測到不同波長的X射線。測角儀系統1θ及2θ用直流馬達直接定位單獨控制。
譜儀支持系統：真空系統、充氦系統、壓縮空氣系、P10氣系統、譜儀溫控系統、光管內部循環冷卻水系統。
真空系統(真空故障判定)、壓縮空氣(空壓機輸出壓力為4-5bar，報警可適當調整)、探測器氣體系統(P10氣系統:EDX3000BX射線熒光光譜儀本身帶有氣密度穩定系統。壓力0.75bar，流量1L/h，氣體流量與腔內溫度有關)、溫控系統(機內恒溫:30度左右)、內循環水系統(用于冷卻X射線管的陽極)。
檢測通道系統：
流量正比計數器(輕元素)和閃爍計數器(重元素)，半導體檢測器等。EDX3000BX射線熒光光譜儀不同的晶體探測器組合，探測器高壓單獨設定。
更新時間：2017-12-20 
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